国際学会The 20th International Microscopy Congress (IMC20) @韓国 釜山に参加し、井原助教、Lavakumar学術研究員、D3 Jesadaさん、M2佐藤さんが発表を行いました。
・井原助教 口頭発表
「Deep learning enabled high-speed scanning transmission electron microscopy for in situ and three-dimensional observation」
・Lavakumar学術研究員 口頭発表
「Visualization of crystal to amorphous transformation during crack propagation using in-situ S/TEM combined with EELS」
・D3 Punyafuさん 口頭発表
「Obtaining a proof of Cottrell atmosphere in austenitic steel using in-situ TEM deformation technique」
・M2 佐藤さん ポスター発表
「Development of grain boundary extraction algorithm for 4D-STEM data towards three-dimensional visualization」