井原助教、Avala学術研究員、 Punyafuさん(D3)、佐藤さん(M2)が国際学会The  20th International Microscopy Congress (IMC20) @韓国 釜山に参加し、発表を行いました。

・井原助教　口頭発表

「Deep learning enabled high-speed scanning transmission electron microscopy for in situ and three-dimensional observation」

・Avala学術研究員　口頭発表

「Visualization of crystal to amorphous transformation during crack propagation using in-situ S/TEM combined with EELS」

・ Punyafuさん　口頭発表

「Obtaining a proof of Cottrell atmosphere in austenitic steel using in-situ TEM deformation technique」

・ 佐藤さん　ポスター発表

「Development of grain boundary extraction algorithm for 4D-STEM data towards three-dimensional visualization」